| Tabellen zur Röntgen-Emissions- und Absorptions-Analyse |
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Die heute in steigendem Umfange festzustellende Verwendung der Rontgenspektroskopie fur chemisch-analytische Zwecke liel3 es wiin schenswert erscheinen, das fur dieses Anwendungsgebiet der Rontgen technik vorliegende Zahlenmaterial einmal zusammenzustellen und nach den Bedurfnissen des Analytikers zu erweitern. In Verbindung mit den im gleichen Verlag erschienenen "Tabellen zur Rontgen strukturanalyse" von K. SAGEL durften damit dem Chemiker, Physiker und Metallkundler die fur das Gebiet der Materialprufung mit Rontgen strahlen notwendigen Hilfsmittel vollstandig zur Verfugung stehen. Der einleitende Textteil soIl aul3er Hinweisen zur Benutzung der Tabellen einen kurzen Uberblick uber die Grundlagen der Rontgen spektroskopie geben. Fur eine ausfiihrliche Information sei auf die zitierten Veroffentlichungen verwiesen. Dem Springer-Verlag sei fur das freundliche Entgegenkommen bei der Herausgabe dieses Buchleins gedankt. Frankfurt (Main), im Oktober 1958 K. SAGEL Inhaltsverzeichnis I. Grundlagen der Riintgenspektralanalyse Seite A. GesetzmaBigkeiten des Riintgenspektrums 1 1. Das Emissionsspektrum. . . . . . . . . 1 2. Das Absorptionsspektrum. . . . . . . . 7 B. Grundlagen der Riintgenspektroskopie 10 1. Die BRAGGsche GIeichung. . . . . . . . 10 2. Abweichungen von der BRAGGschen Gleichung 11 C. Qualitative Riintgenspektralanalyse 12 1. Qualitative Emissionsanalyse . . . . . 12 2. Qualitative Absorptionsanalyse . . . . 15 D. Quantitative Riintgenspektralanalyse 17 1. Quantitative Emissionsanalyse. . 18 2. Quantitative Absorptionsanalyse. 24 E. Spektralapparate ..... . 26 1. Riintgenoptische Anordnungen. 26 2. Der Analysatorkristall 31 3. Detektoren 33 F. Anwendungen der Riintgenspektralanalyse 35 II. Tabellen 1. Energien der verschiedenen Atomniveaus . 37 2. Die WeIIenlangen der K-Serie ..... . 40 3. Relative Linienintensitaten der K-Serie .. 43 4. Abstande zwischen den Spindubletten K., und K., 45 5. Die WeIIenlangen der L-Serie .
Kategorie: Books
Hersteller: Springer Berlin
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