| Basmer, T: Entwurf eines Bustest-Verfahrens basierend auf de |
|
|
Bei den heutigen immer schnelleren digitalen Schaltungen, bekommen Laufzeitverzögerungsfehler eine immer grössere Bedeutung. In dieser Arbeit wird ein Verfahren zum Test von digitalen Schaltkreisen auf derartige Fehler vorgestellt. Als zu testende Systeme wurden hierbei hauptsächlich Bussysteme betrachtet. Sie enthalten oft parallel verlaufende Signalleitungen, die sich auf Grund verschiedener Effekte gegenseitig in ihrem Schaltverhalten beeinflussen können. Diese so genannten Crosstalk-Effekte wurden im Speziellen berücksichtigt. Als Grundlage für die Testgenerierung dient der Broadside-Ansatz.
Kategorie: Books
Hersteller: VDM
83,90 CHF
Lieferzeit: 1-2 Werktagen |
|
|
|
